1. Reka bentuk bersepadu mikroskop metallografi optik dan mikroskop daya atom, fungsi yang kuat
2. Ia mempunyai kedua -dua mikroskop optik dan fungsi pengimejan mikroskop daya atom, yang kedua -duanya boleh berfungsi pada masa yang sama tanpa mempengaruhi satu sama lain
3. Pada masa yang sama, ia mempunyai fungsi pengukuran dua dimensi optik dan pengukuran mikroskop kekuatan atom
4. Ketua pengesanan laser dan tahap pengimbasan sampel disepadukan, strukturnya sangat stabil, dan anti-interferensi kuat
5. Peranti kedudukan probe ketepatan, pelarasan penjajaran tempat laser sangat mudah
6. Sampel pemacu paksi tunggal secara automatik mendekati siasatan secara menegak, supaya hujung jarum diimbas tegak lurus ke sampel
7. Kaedah pemakanan jarum pintar dari pengesanan automatik seramik piezoelektrik yang dikawal oleh motor
8. Sistem kedudukan optik pembesaran ultra tinggi untuk mencapai kedudukan yang tepat untuk siasatan dan kawasan pengimbasan sampel
9. Editor Pengguna Pembetulan Nonlinear Bersepadu, Pencirian Nanometer dan Ketepatan Pengukuran Lebih Baik daripada 98%
Spesifikasi:
| Mod operasi | mod sentuh, ketik mod |
| Mod pilihan | Geseran/daya sisi, amplitud/fasa, daya magnet/elektrostatik |
| Kurva spektrum daya | Keluk daya FZ, lengkung RMS-Z |
| Range imbasan xy | 50*50um, pilihan 20*20um, 100*100um |
| Z imbasan julat | 5um, pilihan 2um, 10um |
| Resolusi imbasan | Mendatar 0.2nm, menegak 0.05nm menegak |
| Saiz sampel | Φ≤68mm, H≤20mm |
| Perjalanan peringkat sampel | 25*25mm |
| Optik Optik | 10x |
| Objektif Optik | 5x/10x/20x/50x Pelan Objektif Apochromatic |
| Kaedah pencahayaan | Sistem pencahayaan le kohler |
| Fokus optik | Fokus manual kasar |
| Kamera | 5MP Sensor CMOS |
| paparan | Paparan panel rata 10.1 inci dengan fungsi pengukuran berkaitan graf |
| Imbasan kelajuan | 0.6Hz-30Hz |
| Sudut imbasan | 0-360 ° |
| Persekitaran operasi | Sistem operasi Windows XP/7/8/10 |
| Antara muka komunikasi | USB2.0/3.0 |
